智慧局產業專利知識平台新增「本國設計專利以圖找圖」功能beta版對外開放試行

為提升設計專利檢索效能與便利性，本（114）年度於產業專利知識平台新增 「本國設計專利以圖找圖」功能（beta版），收錄自民國 102 年起公告之設計專利案件，並運用智慧圖像比對技術，協助使用者透過圖片快速檢索相似案件，突破傳統僅能依文字敘述查詢的限制，提供更直覺且精準的檢索方式，有助於研發創新及權利管理。

功能特色如下

圖片上傳與比對：使用者上傳圖片進行相似案件檢索時，系統會自動框選圖樣並標示紅框。
局部裁切檢索：除完整圖片比對外，亦可透過裁切工具，針對特定部分進行檢索。
LOC 分類整合：支援輸入國際工業設計分類號（LOC），結合圖像與分類雙重檢索，快速鎖定特定領域案件。
多重篩選條件：檢索結果可依發明人、申請人、公開年度與 LOC 進一步篩選，協助快速聚焦需求。
在檢索結果頁面中，使用者除可查看公告號、申請號、公告日及 LOC 分類等資訊，亦可點選瀏覽完整圖式，或透過「詳目」功能檢視書目資料，深入掌握案件內容，誠摯邀請各界先進踴躍體驗。

資料來源：經濟部智慧財產局