「2015專利法制研討會」歐美專家深入解析專利法兩大焦點議題-申請專利範圍解釋及進步性判斷

經濟部智慧財產局、臺灣大學法學院及中華民國專利師公會於本(104)年8月28、29日假臺灣大學霖澤館國際會議廳，共同主辦「2015專利法制研討會—申請專利範圍解釋及進步性之國際比較」，邀請美國聯邦巡迴上訴法院(CAFC) Raymond T. Chen法官、德國聯邦最高法院智財庭庭長Peter Meier-Beck法官、歐洲專利局(EPO)代表Dr. Daniele Semino、美國專利商標局(USPTO)代表Mr. Christian Hannon，以及我國智慧財產局代表林國塘組長、LG電子副總裁Dr. Joo Sup Kim與美國知名律師Mr. James Yoon、Mr. Gary Ma等，在二天的研討會中進行專題報告，並與我國智慧財產法院、智慧財產局及專利師公會代表進行圓桌論壇分享經驗。參與本研討會之人員包括智財法院法官、專利代理人、學術單位、政府官員、產業界等近200名與會，相當踴躍。

為提昇司法機關處理智慧財產案件之專業性及效率，智慧財產法院於2008年設立，迄今已承審超過千件專利民事及行政訴訟案件，經分析歸納其判決見解，最關鍵之爭議，在於申請專利範圍解釋及進步性判斷等兩大議題，鑑於其高度不確定法律概念之抽象本質，在我國智慧財產法院設立運作邁入第八年之際，本次研討會特別挑選「申請專利範圍解釋」與「進步性」這兩大基本主題，也是大部分案件都會碰到的議題來探討，並藉此機會檢討我國的專利審查基準、審查方式，以及可供法院參考之處。經過兩天的熱烈討論，進步性判斷、所屬技術領域中具有通常知識者（PHOSITA）及歐、美對於申請專利範圍解釋等重要爭議，已得到釐清。

研討會中，與會法官、學者、政府官員、專利代理人、產業界等和美國、歐洲專家進行了充分的意見交換與經驗交流，台上台下互動熱烈，相關研討資料於我國未來專利審查與司法實務之檢討與品質改進有極大參考價值，與會者咸認這是一場非常成功的研討會。

資料來源：經濟部智慧財產局